多年專注于可靠性測試設備 企業(yè)已通過質量管理體系認證和CE認證
?性能指標符合以下標準:
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第 2 部分: 試驗方法 試驗 N: 溫度變化;
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分: 試驗方法 試驗 B: 高溫。
4.1.14 設備需支持 SECS/GEM 協(xié)議
4.1.15 MTBA (平均故障間隔周期)
?高低溫PCIE老化柜,恒溫PCIE老化箱,高低溫PCIE老化箱,高低溫PCIE
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